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- Helios 5 Laser PFIB聚焦離子束電鏡
Thermo Scientific Helios 5 Laser 聚焦離子束電鏡提供了優(yōu)良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：5607
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Helios 5 DualBeam聚焦離子束顯微鏡
聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn)：高材料對(duì)比度，快、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：5266
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- 聚焦離子束電鏡
Thermo Scientific Helios 5 Laser 聚焦離子束電鏡提供了優(yōu)良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4827
- 更新日期：2023-03-28 ￥面議
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- Helios 5 DualBeamFIB雙束電鏡
新一代的賽默飛世爾科技 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可滿(mǎn)足材料科學(xué)研究人員和工程師對(duì)廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是有挑戰(zhàn)性的樣品。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：5213
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統(tǒng)
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為廣泛類(lèi)型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2418
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Helios 5 LaserPFIB顯微鏡
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質(zhì)量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質(zhì)量亞表面和三維表征設(shè)備。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4255
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
